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SuperViewW系列白光干涉三維形貌儀輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理，特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

NS系列亞埃級分辨率臺階儀是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優點。它可以測量各種材料的膜層厚度，包括金屬、陶瓷、塑料等。

CEM3000系列國產鎢燈絲臺式掃描電鏡的發射電流大且穩定，抗震和抗電磁干擾等性能較好，在一些較為復雜的工作環境中，如存在一定程度的機械振動或電磁干擾的實驗室、生產現場等，鎢燈絲臺式掃描電鏡依然能夠穩定地工作，保證檢測結果的可靠性和重復性，減少因外界干擾而導致的圖像模糊、信號失真等問題。

CEM3000國產桌面掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。即便在一些常規電鏡難以耐受的工作環境中，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術，展現出色的性能。

VT6000國產共聚焦3D材料分析顯微鏡以轉盤共焦光學系統為基礎，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

VT6000材料3D形貌共聚焦測量顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，從而實現器件表面形貌3D測量。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。