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Product CategoryCEM3000高襯度成像掃描電鏡系統(tǒng)憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡(jiǎn)單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
中圖儀器3D白光干涉表面形貌儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
CEM3000高精度掃描電子顯微鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡(jiǎn)單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
VT6000精密共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì),橫向分辨率更高。它具有直觀測(cè)量的特點(diǎn),能夠有效提高工作效率,更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的操作。
中圖儀器納米形貌觀測(cè)掃描電鏡用的鎢燈絲電子槍,發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高。緊湊的外型,能夠不受場(chǎng)地尺寸制約,真正做到了空間適用性,用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時(shí)CEM3000也能根據(jù)用戶需求,輕松移機(jī),一臺(tái)機(jī)器多處開花。
中圖儀器CEM3000高性能復(fù)合抗振系統(tǒng)掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍,發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
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