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針對測量ITO導電薄膜的應用場景，NS系列臺階厚度儀結合了360°旋轉臺的全電動載物臺，能夠快速定位到測量標志位；對于批量樣件，提供自定義多區域測量功能，實現一鍵多點位測量；提供SPC統計分析功能，直觀分析測量數值變化趨勢。

VT6000材料型轉盤共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。配備了真彩相機并提供還原的3D真彩圖像，對細節的展現纖毫畢現。

SuperViewW1白光干涉儀顯微鏡應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。廣泛應用于如納米材料、航空航天、半導體等各類精密工件表面質量高要求的領域中，可以說只有白光干涉儀才能達到微型范圍內重點部位的納米級粗糙度、輪廓等參數的測量要求。

VT6000系列3d形貌共聚焦光學顯微鏡可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

NS200探針式臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

CHOTEST中圖儀器VT6000高精度測量共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。對各種產品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。